4. EPMO Open Source Coordination Office Redaction File Detail Report

Produced by Araxis Merge on 4/27/2017 2:09:12 PM Central Daylight Time. See www.araxis.com for information about Merge. This report uses XHTML and CSS2, and is best viewed with a modern standards-compliant browser. For optimum results when printing this report, use landscape orientation and enable printing of background images and colours in your browser.

4.1 Files compared

# Location File Last Modified
1 PSS_10_203_cif.zip\PSS_10_203_cif\docs EPIP_Test_Evaluation_(PSS_1.0_203).docx Tue Apr 18 15:44:42 2017 UTC
2 PSS_10_203_cif.zip\PSS_10_203_cif\docs EPIP_Test_Evaluation_(PSS_1.0_203).docx Thu Apr 27 18:55:09 2017 UTC

4.2 Comparison summary

Description Between
Files 1 and 2
Text Blocks Lines
Unchanged 3 774
Changed 1 4
Inserted 0 0
Removed 1 1

4.3 Comparison options

Whitespace
Character case Differences in character case are significant
Line endings Differences in line endings (CR and LF characters) are ignored
CR/LF characters Not shown in the comparison detail

4.4 Active regular expressions

No regular expressions were active.

4.5 Comparison detail

  1   Existing P roduct Int ake Progra m (EPIP)
  2   Patch PSS* 1.0*203
  3   Test Evalu ation
  4  
  5  
  6  
  7   Department  of Vetera ns Affairs
  8   April 2017
  9   Version 2. 0
  10  
  11  
  12  
  13   Revision H istory
  14   Note: The  revision h istory cyc le begins  once chang es or enha ncements a re request ed after t he Communi cations Pl an has bee n baseline d.
  15   Date
  16   Version
  17   Descriptio n
  18   Author
  19   04/04/2017
  20   2.0
  21   Updated Te st Results  Summary a nd Defect  Log due to  retesting  for re-re mediation.  
  22   EPIP Proje ct Team
  23   03/03/2017
  24   1.0
  25   Initial do cument.
  26   EPIP Proje ct Team
  27  
  28   Artifact R ationale
  29   The test e valuation  document i s the prim ary output  of the te st and eva luation pr ocess, an  integral p art of the  systems e ngineering  process,  which iden tifies lev els of per formance a nd assists  the devel oper in co rrecting d eficiencie s.
  30  
  31   Table of C ontents
  32   1.Test Eva luation In troduction 1
  33   1.1.Test E valuation  Scope1
  34   1.2.Test A rchitectur e1
  35   1.3.Test E nvironment /Configura tion1
  36   1.4.Instal lation Pro cess2
  37   2.Test Dat a2
  38   3.Issues2
  39   4.Test Exe cution Log 2
  40   5.Test Def ect Log3
  41   6.Test Res ults Summa ry3
  42   6.1.Defect  Severity  and Priori ty Levels4
  43   6.2.Total  Defects by  Severity  Level4
  44   6.3.Breakd own of Tes t Results4
  45   6.4.Perfor mance Test ing4
  46   7.Test Cov erage4
  47   7.1.Requir ements Cov ered4
  48   7.2.Sectio n 508 Comp liance Cov erage5
  49   8.Suggeste d Actions5
  50   9.Defect S everity an d Priority  Definitio ns5
  51   9.1.Defect  Severity  Level5
  52   9.1.1.Seve rity Level  1 – Criti cal5
  53   9.1.2.Seve rity Level  2 - High6
  54   9.1.3.Seve rity Level  3 - Mediu m6
  55   9.1.4.Seve rity Level  4 - Low6
  56   9.2.Priori ty Classif ications7
  57   9.2.1.Prio rity 1 - R esolve Imm ediately7
  58   9.2.2.Prio rity 2 - G ive High A ttention7
  59   9.2.3.Prio rity 3 - N ormal Queu e7
  60   9.2.4.Prio rity 4 - L ow Priorit y7
  61   10.Optiona l Tables,  Charts, an d Graphs7
  62   11.Documen t Approval  Signature s8
  63   Appendix A  - Test Ex ecution Lo g9
  64   Appendix B  – Defect  Log10
  65  
  66   Test Evalu ation Intr oduction
  67   The purpos e of this  Test Evalu ation is t o:
  68   Identify t he testing  approach  used.
  69   Present a  summary an alysis of  the key te st results  from the  remediatio n of this  intake for  review an d assessme nt by desi gnated sta keholders.
  70   Provide a  general st atement of  the quali ty of the  system und er test.
  71   Make recom mendations  for futur e testing  efforts.
  72   Test Evalu ation Scop e
  73   The scope  of this Te st Evaluat ion is to  verify the  functiona lity of th e Patch PS S*1.0*203  code modif ication, a s determin ed by Func tional, Co mponent In tegration/ System, an d Regressi on testing . Testing  activities  followed  the specif ications o utlined in  the follo wing Maste r Test Pla n: PSS*1.0 *203 Maste r Test Pla n (include d in Appen dix A).
  74   Test Archi tecture
  75   Following  are the EP IP test ac counts use d by the L eidos Deve lopment an d SQA Test ing teams  to test PS S*1.0*203.
  76   Developmen t Test Acc ounts 
  77   (For Unit  Testing)
  78   SQA Test A ccounts 
  79   (For Funct ional, Reg ression, a nd Compone nt Integra tion and S ystem Test ing)
  80   VistAS1 (  alternate  name: D1S1 )
  81   VistAG1 (a lternate n ame: D1G1)  
  82   VistAS2 (a lternate n ame: D1S2)  –for CPRS  GUI testi ng only
  83   VistAG2 (a lternate n ame: D1G2)  –for CPRS  GUI testi ng only
  84   Test Envir onment/Con figuration
  85   The EPIP t est accoun ts are mai ntained by  the EPIP  System Adm inistrator , who inst alls all V A-released  patches a s soon as  they are n ationally  released.  All EPIP t est accoun ts are clo ned from e xisting VA  Enterpris e Testing  Services ( ETS) test  accounts.  The Comput erized Pat ient Recor d System ( CPRS) Grap hical User  Interface  (GUI) exe cutable is  configure d for each  VistA ins tance util izing a un ique Inter net Protoc ol (IP) ad dress to c onnect to  the VistA  applicatio ns. Any up dates to t he CPRS GU I executab le are han dled by th e EPIP Sys tem Admini strator.
  86   All EPIP T est Engine ers and De velopers w ho have th e proper c redentials  can acces s the test  accounts.  The VA Au stin Infor mation Tec hnology Ce nter (AITC ) support  team reset s password s and sets  up new ac cess crede ntials on  an as-need ed basis.
  87   Installati on Process
  88   As soon as  the remed iation pro cess is co mplete and  the patch  is availa ble for te sting, a K IDS build  is created  in the De velopment  account an d then sen t to FORUM  for final  packaging . The patc h is then  submitted  to the VA  SQA Lead’s  Mailman a ccount for  installat ion. 
  89   An EPIP De veloper or  Test Engi neer utili zes the KI DS Install ation proc ess to ext ract the b uild from  the patch  and instal l the buil d into a t est accoun t. The ind ividual wh o installs  the patch  verifies  the routin e checksum s and also  checks fo r errors d uring the  installati on process . If the p atch is su ccessfully  installed  without a ny errors,  then the  EPIP Test  team proce eds with F unctional,  Regressio n, and Com ponent Int egration a nd System  testing. I f defects  are found,  then the  Developmen t team wor ks to find  a resolut ion and cr eates new  versions o f the patc h until al l defects  are resolv ed.
  90   Test Data
  91   The SQA Te sting team  utilizes  the test d ata in the  designate d test acc ounts (D1G 1, D1G2).
  92   The test d ata is enc rypted fol lowing the  standards  set forth  by the VA  Office of  Informati on & Techn ology (OI& T). All Pe rsonally I dentifiabl e Informat ion (PII)  and Protec ted Health  Informati on (PHI) i s scrubbed  and is no t availabl e to the T est Engine ers.
  93   All testin g is execu ted using  encrypted  test patie nts availa ble from a ny of the  EPIP test  accounts.  Examples o f encrypte d test pat ients:
  94   AAAHURMMX,  XPHY
  95   BADHB, HAA DXS
  96   FDHUX, YHI  J
  97   All tests  were execu ted manual ly by EPIP  Test Engi neers.
  98   Issues
  99   No issues  were encou ntered dur ing testin g of PSS*1 .0*203.
  100   Title
  101   Issue Desc ription
  102   Type
  103   Severity
  104   N/A
  105   N/A
  106   N/A
  107   N/A
  108   Test Execu tion Log
  109   The Test E xecution L og records  the execu tion of te st scripts  and docum ents the t est result s for each  test scri pt. 
  110   The SQA Te sting team  utilizes  the Ration al Quality  Manager ( RQM) tool  for all te sting acti vities. Al l test doc uments are  stored in  the EPIP  repository , includin g the Mast er Test Pl an, Test S uites, Tes t Cases, a nd Test Sc ripts. Tes t executio n is perfo rmed, and  test resul ts recorde d, in RQM.  The Test  Engineer a dds the te st results  to the Te st Executi on records  to indica te whether  testing a chieved Pa ss or Fail  status.
  111   The Test E xecution r ecords for  PSS*1.0*2 03 are inc luded in t he EPIP Pa tch PSS*1. 0*203 Mast er Test Pl an. The Ma ster Test  Plan is av ailable in  Appendix  A. 
  112   Test Defec t Log
  113   The Test D efect Log  is a tool  for record ing, analy zing, trac king, and  documentin g the clos ure of def ects. It s pecifies t he screen,  field, be havior or  result tha t occurred , and the  IEEE-defin ed Severit y Level. I t includes  enough in formation  for the de veloper to  find and  re-create  the defect . The Defe ct Log is  available  in Appendi x B.
  114   Test Resul ts Summary
  115   SQA testin g for Test  version 1  started i n the Dev1  Gold1 tes t environm ent on Dec ember 27,  2016. Test  version 1  was insta lled in th is test en vironment  after Unit  testing i n Dev1 Sil ver1 was c ompleted.  Upon compl etion of I ntegration  testing ( Component  Integratio n and Syst em Testing , Function al Testing , and Regr ession Tes ting), one  (1) defec t was foun d and repo rted. This  defect wa s due to a  missing b uild disco vered duri ng Functio nal testin g. 
  116   A new vers ion (v2) w as then su bmitted to  SQA for r etesting.  Test versi on 2 was i nstalled i n the Dev1  Gold1 tes t environm ent after  Unit testi ng in Dev1  Silver1 w as complet ed. Upon c ompletion  of Integra tion testi ng (Compon ent Integr ation and  System Tes ting, Func tional Tes ting, and  Regression  Testing),  two (2) d efects wer e found an d reported
  117   A new vers ion (v3) w as then su bmitted to  SQA for r etesting.  Test versi on 3 was i nstalled i n the Dev1  Gold1 tes t environm ent after  Unit testi ng in Dev1  Silver1 w as complet ed. Testin g continue d until Fe bruary 16,  2017. Upo n completi on of Inte gration te sting (Com ponent Int egration a nd System  Testing, F unctional  Testing, a nd Regress ion Testin g), zero ( 0) defects  were foun d and repo rted. Duri ng the Pro duct demon stration,  it was not ed that a  requiremen t was miss ing from t he patch.  One (1) de fect was e ntered to  address th is issue.
  118   Test versi on 4 was s ubmitted a nd install ed in the  Dev1 Gold1  test envi ronment on  March 20,  2017 afte r Unit tes ting in De v1 Silver1  was compl eted. Upon  completio n of Integ ration tes ting (Comp onent Inte gration an d System T esting, Fu nctional T esting, an d Regressi on Testing ), one (1)  defect wa s found, r esulting i n a new te st version  5. 
  119   Test versi on 5 was i nstalled o n the same  day as Te st version  4 after U nit testin g in Dev1  Silver1 wa s complete d. Upon co mpletion o f Integrat ion testin g (Compone nt Integra tion and S ystem Test ing, Funct ional Test ing, and R egression  Testing),  one (1) de fect was f ound.
  120   Test versi on 6 was s ubmitted t o SQA and  installed  on March 2 1, 2017 af ter Unit t esting in  Dev1 Silve r1 was com pleted. Up on complet ion of Int egration t esting (Co mponent In tegration  and System  Testing,  Functional  Testing,  and Regres sion Testi ng), one ( 1) defect  was found,  which res ulted in t est versio n 7.
  121   Test versi on 7 was i nstalled i n the Dev1  Gold1 tes t environm ent on Mar ch 22, 201 7 after Un it testing  in Dev1 S ilver1 was  completed . Upon com pletion of  Integrati on testing  (Componen t Integrat ion and Sy stem Testi ng, Functi onal Testi ng, and Re gression T esting) on  March 30,  2017, zer o (0) defe cts were f ound and r eported.
  122   Defect Sev erity and  Priority L evels
  123   A defect i s defined  as a flaw  in a compo nent or sy stem that  can cause  the compon ent or sys tem to fai l to perfo rm its req uired func tion, e.g. , an incor rect state ment or da ta definit ion. A def ect, if en countered  during exe cution, ma y cause a  failure of  the compo nent or sy stem. 
  124   Defects ar e categori zed accord ing to sev erity and  priority l evels. The  test anal yst assign s the seve rity, whil e the deve lopment ma nager assi gns the pr iority for  repair. F or more in formation,  see Defec t Severity  and Prior ity Defini tion in th is Test Ev aluation.
  125   Total Defe cts by Sev erity Leve l
  126   The Defect  Log in Ap pendix B d isplays th e defects  encountere d while te sting this  patch, an d the seve rity level  of each.
  127   Breakdown  of Test Re sults
  128   Testing wa s complete d on March  30, 2017.  All test  results we re recorde d in RQM.  Detailed r esults are  available  in the EP IP Patch P SS*1.0*203  Master Te st Plan (s ee Appendi x A).
  129   Performanc e Testing
  130   Performanc e testing  was not co nducted.
  131   Test Cover age
  132   The EPIP P atch PSS*1 .0*203 Mas ter Test P lan contai ns details  on test c overage (s ee Appendi x A).
  133   Requiremen ts Covered
  134   The requir ements for  PSS*1.0*2 03 are sto red in the  Rational  Dynamic Ob ject Orien ted Requir ements Sys tem (DOORS ). The tes t cases us ed to vali date that  the requir ements hav e been add ressed are  stored in  RQM and a re linked  to the req uirements,  providing  full trac eability.  The user s tories sto red in the  Rational  Change and  Configura tion Manag ement (CCM ) applicat ion (a.k.a . Rational  Team Conc ert (RTC))  are linke d to the r equirement s and test  cases. 
  135   The follow ing links  provide ac cess to th e various  EPIP repos itories in  the Ratio nal toolki t.
  136   EPIP (RM)  – Go to Ar tifacts, t hen Browse  Artifacts , and then  search fo r the desi red patch  number. Th e patch fo lder conta ins the re quirements  for that  patch.
  137  
, and then  search fo r the desi red Master  Test Plan . The Mast er Test Pl an and tes t cases ar e linked t o requirem ents.
       
       
  138   EPIP (CM)  – Go to Pl ans, then  All Plans,  and then  search for  the desir ed sprint  Plan. The  user stori es in each  Plan are  linked to  requiremen ts and tes t cases.
       
  139   Section 50 8 Complian ce Coverag e
  140   Section 50 8 testing  was not re quired for  this patc h. 
  141   Suggested  Actions
  142   Leidos rec ommends mo ving this  patch to I OC testing .
  143   Defect Sev erity and  Priority D efinitions
  144   The classi fication o f defects  within a s ystem exam ines both  the severi ty and pri ority of t he defect.  
  145   Severity i s a measur e of how g reat the i mpact is o n the user ’s ability  to comple te the doc umented ac tions with in the sys tem. 
  146   Priority d etermines  the speed  with which  a given d efect must  be repair ed. 
  147   Defect cla ssificatio n may be d etermined  either bec ause testi ng is dela yed by a f ailure in  the system  or becaus e a cumber some worka round prev ents a use r from com pleting th e assigned  tasks. Bo th severit y and prio rity measu res must b e recorded  when sche duling def ect resolu tion tasks .
  148   Defect Sev erity Leve l
  149   The follow ing subsec tions iden tify the d efect seve rity level s.
  150   Severity L evel 1 – C ritical
  151   Institute  of Electri cal and El ectronics  Engineers  (IEEE) def inition: T he defect  results in  the failu re of the  complete s oftware sy stem, of a  subsystem , or of a  software u nit (progr am or modu le) within  the syste m.
  152   Any defect  that comp romises pa tient safe ty or syst em securit y. Example s of syste m security  defects i nclude bre ach of con fidentiali ty require ments of t he Privacy  Act, the  Health Ins urance Por tability a nd Account ability Ac t (HIPAA),  or Federa l Tax Info rmation gu idelines.
  153   Loss of sy stem funct ionality c ritical to  user oper ations wit h no suita ble workar ound, i.e. , there is  no way to  achieve t he expecte d results  using the  applicatio n.
  154   System cra sh or hang  that prev ents furth er testing  or operat ion of the  complete  applicatio n or a sec tion of th e applicat ion.
  155   Any defect  that caus es corrupt ion of dat a from a r esult of t he system  (as oppose d to user  error).
  156   Any defect  in which  inappropri ate transm issions ar e consiste ntly gener ated or ap propriate  transmissi ons of HL7  messages  fail to be  generated .
  157   Loss of fu nctionalit y resultin g in erron eous eligi bility/enr ollment de terminatio ns or comm unications  not being  sent.
  158   Severity L evel 2 - H igh 
  159   IEEE defin ition: The  defect re sults in t he failure  of the co mplete sof tware syst em, of a s ubsystem,  or of a so ftware uni t (program  or module ) within t he system.  There is  no way to  make the f ailed comp onent(s) f unction. H owever, th ere are ac ceptable p rocessing  alternativ es which w ill yield  the desire d result.
  160   A major de fect in th e function ality that  does not  result in  corruption  of data.
  161   A major de fect in th e function ality resu lting in a  failure o f all or p art of the  applicati on, where:  
  162   The expect ed results  can tempo rarily be  achieved b y alternat e means. T he custome r indicate s the work  around is  acceptabl e for the  short term .
  163   Any defect  that does  not confo rm to Sect ion 508 st andards.
  164   Any defect  that resu lts in ina ccurate or  missing r equirement s.
  165   Any defect  that resu lts in inv alid authe ntication  or authent ication of  an invali d end user .
  166   Severity L evel 3 - M edium 
  167   IEEE defin ition: The  defect do es not res ult in a f ailure, bu t causes t he system  to produce  incorrect , incomple te, or inc onsistent  results, o r the defe ct impairs  the syste ms usabili ty.
  168   Minor func tionality  is not wor king as in tended and  a workaro und exists  but is no t suitable  for long  term use
  169   The inabil ity of a v alid user  to access  the system  consisten t with gra nted privi leges
  170   Typographi cal or gra mmatical e rrors in t he applica tion, incl uding inst allation g uides, use r guides,  training m anuals, an d design d ocuments
  171   Any defect  producing  cryptic,  incorrect,  or inappr opriate er ror messag es
  172   Any defect  that resu lts from t he use of  non-standa rd data te rminology  in the app lication o r document ation, as  defined by  the Depar tment of V eterans Af fairs 
  173   Cosmetic i ssues that  are impor tant to th e integrit y of the p roduct, bu t do not r esult in d ata entry  and or dat a quality  problems.
  174   Severity L evel 4 - L ow 
  175   IEEE defin ition: The  defect do es not cau se a failu re, does n ot impair  usability,  and the d esired pro cessing re sults are  easily obt ained by w orking aro und the de fect.
  176   Minor loss  of, or de fect in th e function ality wher e a long t erm use ex ists
  177   Low-level  cosmetic i ssues.
  178   Priority C lassificat ions
  179   The follow ing subsec tions iden tify the a ppropriate  actions f or defects  at each p riority le vel, per d efinitions  of IEEE.
  180   Priority 1  - Resolve  Immediate ly
  181   Further de velopment  and/or tes ting canno t occur un til the de fect has b een repair ed. The sy stem canno t be used  until the  repair has  been affe cted.
  182   Priority 2  - Give Hi gh Attenti on
  183   The defect  must be r esolved as  soon as p ossible be cause it i s impairin g developm ent and/or  testing a ctivities.  System us e will be  severely a ffected un til the de fect is fi xed. 
  184   Priority 3  - Normal  Queue
  185   The defect  should be  resolved  in the nor mal course  of develo pment acti vities. It  can wait  until a ne w build or  version i s created.  
  186   Priority 4  - Low Pri ority
  187   The defect  is an irr itant that  should be  repaired,  but can b e repaired  after mor e serious  defects ha ve been fi xed. 
  188   Optional T ables, Cha rts, and G raphs
  189   None.
  190   Document A pproval Si gnatures
  191  
  192   Signed: __ __________ __________ __________ __________ __________ __________ _________ 
  193   Program/Pr oject Mana gerDate
  194  
  195   Signed: __ __________ __________ __________ __________ __________ __________ _________ 
  196   Business S ponsor Rep resentativ eDate
  197  
  198   Signed: __ __________ __________ __________ __________ __________ __________ _________ 
  199   Test LeadD ate
  200  
  201   Appendix A  - Test Ex ecution Lo g
  202   The Test E xecution R ecords for  PSS*1.0*2 03 are inc luded in t he EPIP Pa tch PSS*1. 0*203 Mast er Test Pl an.
  203  
  204  
  205   Appendix B  – Defect  Log
  206   Seven (7)  defects we re found d uring test ing of ver sions 1 th rough 7. A ll defects  have been  resolved.
  207   Defect ID
  208   Affected S creen
  209   Affected F ield
  210   Observed B ehavior
  211   Severity
  212   Descriptio n
  213   N/A
  214   None
  215   None
  216   N/A
  217   High
  218   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 1.0. 
  219   N/A
  220   N/A
  221   N/A
  222   N/A
  223   N/A
  224   No defects  were foun d during C omponent I ntegration /System Te sting of v ersion 1.0 .
  225   N/A
  226   N/A
  227   N/A
  228   N/A
  229   N/A
  230   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 1 .0.
  231   467060
  232   Missing re quired bui ld
  233   N/A
  234   N/A
  235   N/A
  236   N/A
  237   One (1) de fect was f ound durin g Function al Testing  of versio n 1.0.
  238   N/A
  239   N/A
  240   N/A
  241   N/A
  242   N/A
  243   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 2.0.
  244   N/A
  245   N/A
  246   N/A
  247   N/A
  248   N/A
  249   No defects  were foun d during C omponent I ntegration  and Syste m Testing  of version  2.0.
  250   N/A
  251   N/A
  252   N/A
  253   N/A
  254   N/A
  255   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 2 .0.
  256   457539
  257   Pharmacy M ail messag e
  258   Mailman
  259   No message  received  for Audit
  260   High
  261   Two (2) de fects were  found dur ing Functi onal Testi ng of vers ion 2.0. 
  262   458406
  263   Pharmacy M ail messag e
  264   Mailman
  265   No message  received  for Drug e dit.
  266   High
  267  
  268   N/A
  269   N/A
  270   N/A
  271   N/A
  272   N/A
  273   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 3.0.
  274   N/A
  275   N/A
  276   N/A
  277   N/A
  278   N/A
  279   No defects  were foun d during C omponent I ntegration  and Unit  Testing of  version 3 .0.
  280   N/A
  281   N/A
  282   N/A
  283   N/A
  284   N/A
  285   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 3 .0.
  286   492935
  287   Pharmacy M ail Messag e
  288   Mailman
  289   Missing th e Drug Pri ce functio nality
  290   Critical
  291   One (1) de fect was f ound durin g Function al testing  of versio n 3.0.
  292   Note: Alth ough this  defect was  found dur ing the pr oduct demo nstration,  it affect ed patch f unctionali ty and the refore is  shown as a  Functiona l test def ect.
  293   N/A
  294   N/A
  295   N/A
  296   N/A
  297   N/A
  298   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 4.0.
  299   N/A
  300   N/A
  301   N/A
  302   N/A
  303   N/A
  304   No defects  were foun d during C omponent I ntegration  and Syste m Testing  of version  4.0.
  305   N/A
  306   N/A
  307   N/A
  308   N/A
  309   N/A
  310   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 4 .0.
  311   492937
  312   Pharmacy M ail Messag e
  313   Mailman
  314   Dispense /  Order Uni ts field i ncorrect d isplay
  315   Critical
  316   One (1) de fect was f ound durin g Function al testing  of versio n 4.0.
  317   N/A
  318   N/A
  319   N/A
  320   N/A
  321   N/A
  322   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 5.0.
  323   N/A
  324   N/A
  325   N/A
  326   N/A
  327   N/A
  328   No defects  were foun d during C omponent I ntegration  and Syste m Testing  of version  5.0.
  329   N/A
  330   N/A
  331   N/A
  332   N/A
  333   N/A
  334   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 5 .0.
  335   492970
  336   Pharmacy A pplication
  337   VistA prog rammer pro mpt
  338   User canno t enter Pr ice Per Or der Unit
  339   Critical
  340   One (1) de fect was f ound durin g Function al testing  of versio n 5.0.
  341   N/A
  342   N/A
  343   N/A
  344   N/A
  345   N/A
  346   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 6.0.
  347   N/A
  348   N/A
  349   N/A
  350   N/A
  351   N/A
  352   No defects  were foun d during C omponent I ntegration  and Syste m Testing  of version  6.0.
  353   N/A
  354   N/A
  355   N/A
  356   N/A
  357   N/A
  358   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 6 .0.
  359   492975
  360   Pharmacy A pplication
  361   Pharmacy A pplication
  362   Missing co de/ functi onality fr om the bui ld
  363   Critical
  364   One (1) de fect was f ound durin g Function al testing  of versio n 6.0.
  365   N/A
  366   N/A
  367   N/A
  368   N/A
  369   N/A
  370   No defects  were foun d during U nit Testin g of versi on 7.0.
  371   N/A
  372   N/A
  373   N/A
  374   N/A
  375   N/A
  376   No defects  were foun d during C omponent I ntegration  and Syste m Testing  of version  7.0.
  377   N/A
  378   N/A
  379   N/A
  380   N/A
  381   N/A
  382   No defects  were foun d during R egression  Testing of  version 7 .0.
  383   N/A
  384   N/A
  385   N/A
  386   N/A
  387   N/A
  388   No defects  were foun d during F unctional  Testing of  version 7 .0.